反熔丝FPGA延时电路γ瞬时辐射效应

• 作者: 徐曦 杜川华 詹峻岭
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 反熔丝FPGA 延时电路 辐射效应 γ剂量率
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 321-324
• 页数: 4页
• 分类号: TL843
• 字数: 2131字
• 语种: 中文

摘要

简要叙述了反熔丝FPGA的基本结构,介绍了一种FPGA延时电路的工作原理以及利用该电路在"强光一号"脉冲加速器上进行γ瞬时辐照试验的方法,给出了试验测量结果.分析表明:高剂量率γ瞬时电离辐射会破坏FPGA延时电路一个信号周期的工作状态,因此存在功能失效的可能性.但就整体而论,反熔丝FPGA抗瞬时辐射的性能要优于其它许多大规模CMOS集成电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜川华	中国工程物理研究院电子工程研究所	13	45	4.0	6.0
2	詹峻岭	中国工程物理研究院电子工程研究所	7	36	3.0	6.0
3	徐曦	中国工程物理研究院电子工程研究所	19	91	6.0	8.0