基于辐射回避的SRAM型FPGA瞬时电离辐射效应测试系统研制

• 作者: 杨善潮 林东生 王桂珍 陈伟 齐超 龚建成
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: SRAM型FPGA 瞬时电离辐射 辐射回避 测试系统
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 598-601
• 分类号: TN431|TN792
• 语种: 中文

摘要

介绍了瞬时电离辐射环境中SRAM型FPGA配置存储器测试的实现方法,提出了将辐射回避应用于FPGA瞬时电离辐射效应测试的方法,设计了可辐射回避的在线测试系统,并对FPGA进行了瞬时电离辐射效应实验.结果表明,测试系统能准确、可靠地进行配置存储器测试,辐射回避是实现大规模集成电路瞬时电离辐射效应测试的有效手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟		95	286	8.0	11.0
2	龚建成		27	110	6.0	8.0
3	林东生		33	148	8.0	10.0
4	王桂珍		32	156	7.0	9.0
5	杨善潮		28	101	6.0	7.0
6	齐超		8	19	3.0	3.0