一种反熔丝FPGA应用设计故障

• 作者: 吴方明 晁醒 李威 杜涛 许百川
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 反熔丝FPGA 应用设计故障 扇出能力限制 时钟偏斜 寄存器掉链
• 年，卷（期）: 2018,（9）
• 页码范围: 108-112,117
• 页数: 6页
• 分类号: TN702
• 语种: 中文

摘要

由于反熔丝FPGA架构和实现原理的特殊性,反熔丝FPGA应用设计在物理实现时,存在一种易于发生、故障现象不稳定且具有一定隐蔽性的时序逻辑故障.通过对故障现象、诱因、原理的深入剖析,发现该应用设计故障与反熔丝FPGA的散出能力限制(Fanout limit)关联,并有针对性地提出了根除故障因素的解决方案.通过实测验证表明,本解决方案能有效消除该类应用设计故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李威	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	49	283	8.0	14.0
2	杜涛	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	11	31	4.0	5.0
3	晁醒	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	0	0.0	0.0
4	吴方明	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	0	0.0	0.0
5	许百川	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	0	0.0	0.0