基于故障字典的数字芯片测试系统

• 作者: 何怡刚 刘美容 游望星 胡湘娟
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 故障字典 测试系统 数字芯片 数字信号处理器
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 1973-1975
• 分类号: TP206+.1
• 语种: 中文

摘要

介绍基于故障字典的数字芯片测试系统的设计与实现,包括数字芯片的测试原理说明、硬件电路组成和软件流程设计等;系统以数字信号处理器(DSP)为核心,采用高度的模块化设计,具有扩充方便、高速采样的特点;系统具备与PC机通信功能,通信模块硬件电路组成是利用DSP的多通道缓冲串行口(McBSP),通过MAX3111E同步转异步的方法来和PC机进行通信的;通过实际的测试应用,证明该软件硬件运行良好,能满足系统设计的要求,为数字芯片的自动测试和故障诊断提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
2	胡湘娟	邵阳学院信息工程系	34	53	4.0	5.0
4	刘美容	湖南大学电气与信息工程学院	19	291	8.0	17.0
7	游望星	湖南大学电气与信息工程学院	4	23	3.0	4.0