含ROM和RAM芯片的数字电路板测试生成

• 作者: 刘连惠 林志文 雷琴
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: ROM/RAM 数字电路 测试向量 生成
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1293-1295,1298
• 页数: 4页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.10.005

摘要

针对数字电路板中含ROM和RAM芯片电路板故障诊断难的现状,采用器件等效模型方法和改进的组合时序电路测试生成算法,研制开发了一套支持ROM/RAM器件测试生成、集电路模型输入、测试生成算法、故障仿真及IEEE-1445标准测试数据转换功能于一体的数字电路板故障诊断测试数据自动生成系统,应用结果表明,该系统测试生成效率高、故障诊断精度高,具有一定的实用性和推广价值.