基于LabVIEW和FPGA的数字电路板比对测试系统设计

• 作者: 王和明 王菊
• 来源期刊: 火炮发射与控制学报
• 关键词: 数字电路板 比对测试 LabVIEW FPGA
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与测试技术
• 页码范围: 45-49
• 页数: 5页
• 分类号: TJ306+.3
• 语种: 中文

摘要

设计了一种基于 LabVIEW和 FPGA的数字电路板比对测试系统，该系统利用 FPGA 产生激励信号并对被测信号进行高速采样及缓存，同时借助于上位机的 LabVIEW软件完成对整个系统的控制和被测信号的比对分析。实际应用表明，该系统具有运行稳定可靠、操作方便等特点，为数字电路的故障排除提供了依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王和明	空军工程大学防空反导学院	32	75	5.0	6.0
2	王菊	空军工程大学防空反导学院	14	31	3.0	5.0