基于片上网络的系统芯片测试研究

• 作者: 周昔平 张盛兵 樊晓桠 荆元利 高德远
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 系统芯片测试 片上网络 协议堆栈 测试服务 模块化测试
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 154-159
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.06.043

摘要

文章介绍了基于片上网络对系统芯片进行测试的原理和实例,这是一种新的设计方法.首先讨论了未来系统芯片存在的各方面测试挑战,并提出了基于片上网络结构的解决方案.其次,在OSI网络堆栈参考模型的基础上,提出了面向测试的片上网络协议堆栈以及对应的测试服务.最后,介绍了基于片上网络的模块化测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学航空微电子中心	166	1045	15.0	24.0
2	张盛兵	西北工业大学航空微电子中心	142	912	15.0	23.0
3	樊晓桠	西北工业大学航空微电子中心	170	1393	17.0	29.0
4	周昔平	西北工业大学航空微电子中心	12	89	4.0	9.0
5	荆元利	西北工业大学航空微电子中心	7	90	5.0	7.0