基于IEEE Std1500标准的互连检测构架设计

• 作者: 孙元 李鹏 颜学龙
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 串扰 测试环 并行测试 串行测试
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 固体电子器件及材料
• 页码范围: 618-622
• 页数: 5页
• 分类号: TN303
• 字数: 3185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2013.05.008

摘要

为了解决MT串扰故障检测模型的矢量冗余问题,通过对传统MT故障模型精简,提出了一种新的串扰故障检测模型—改进型MT模型.通过对基于IEEE Std 1500标准的测试壳各部分进行设计,特别是对测试环单元进行设计,实现了改进型MT模型故障检测.设计的测试壳能够对IP核与核间互连线进行串行测试和并行测试.通过Quartus ii平台仿真及数据计算,验证了该测试构架的有效性和故障检测的高效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	李鹏	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	26	49	4.0	6.0
3	孙元	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	4	8	2.0	2.0