嵌入式存储器的内建自修复设计

• 作者: 刘勇 吴志伟 邹雪城 雷鑑铭
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 79-81,84
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.02.023

摘要

目前,关于嵌入式存储器的内建自测试(MBIST)技术已经日趋成熟.基于这种背景,研究了一种高效的内建自修复(MBISR)方法,试验表明它具有低面积开销和高修复率等优点,保证了嵌入式存储器不仅可测,而且可修复,极大地提高了芯片的成品率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹雪城	华中科技大学电子科学与技术系	310	2261	21.0	31.0
2	刘勇	华中科技大学电子科学与技术系	158	1356	20.0	28.0
4	雷鑑铭	华中科技大学电子科学与技术系	28	161	7.0	11.0
6	吴志伟	华中科技大学电子科学与技术系	3	13	2.0	3.0