基于地址分割的嵌入式存储器内建自修复方法

• 作者: 乔立岩 俞洋 李嘉铭
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自修复 内建自测试 内建冗余分析
• 年，卷（期）: 2010,（z1）
• 页码范围: 169-173
• 分类号: TP391.76
• 字数: 4196字
• 语种: 中文

摘要

内建自修复技术是一种有效修复嵌入式存储器中失效单元的方法.在传统的内建自修复过程中,需要对故障地址进行多次的读写操作,功耗比较大.本文提出了一种基于地址分割的嵌入式存储器内建自修复方法.该方法将故障地址分割成两部分,对BIRA内部存储器的访问分两个步骤进行,有效简化了地址比较过程,降低了功耗.仿真试验表明,本文方法能够在实现存储器故障自修复同时显著降低修复与工作过程中产生的功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	俞洋	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	24	285	9.0	16.0
2	乔立岩	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	39	605	12.0	24.0
3	李嘉铭	哈尔滨工业大学自动化测试与控制系	1	3	1.0	1.0