嵌入式系统中存储器性能研究

• 作者: 石磊 袁杰
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 嵌入式系统 动态随机存储器 故障检测 失效模型
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 嵌入式技术
• 页码范围: 13-16
• 分类号: TN919-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.02.005

摘要

动态随机存储器是嵌入式系统的一个重要组成部分,而动态随机存储器故障是嵌入式系统故障的一个主要原因之一.在此从动态随机存储器的结构和失效模型出发,有针对地提出了用于检测性能的数据和读写方式,实验证明通过提出的检测方法能够有效地找出潜在的存储器故障,从而能够为嵌入式系统设计人员提供改善系统性能的方法和途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁杰	南京大学电子与工程学院	63	257	8.0	12.0
2	石磊	南京大学金陵学院	22	184	4.0	13.0