一种改进的嵌入式存储器测试算法

• 作者: 苏彦鹏 薛忠杰 韩磊 须自明
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 故障原语 静态故障 动态故障 存储器测试 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 嵌入式软件应用
• 页码范围: 110-112
• 页数: 3页
• 分类号: TP333.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.02.044

摘要

基于一种适合于测试静态简化故障的March SS算法,提出了一种改进的嵌入式随机存取存储器测试算法-March SSE算法.该算法在测试长度不变的情况下,不仅能测出March SS算法所测试的全部的功能故障,而且还能检测出March SS算法所遗漏的固定开路故障,以及大部分的动态故障,故障覆盖率得到了大幅度地提高.