SoC嵌入式存储器内建自修复方法

• 作者: 朱芳 焦贵忠 王健 秦盼
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: SoC 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复
• 年，卷（期）: 2019,（10）
• 所属期刊栏目: 高性能计算
• 页码范围: 1749-1754
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 4566字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2019.10.005

摘要

嵌入式存储器的内建自测试及修复是提高SoC芯片成品率的有效办法.详细描述了存储器良率的评估方法,提出了一种基于Mentor公司Tessent工具的存储器修复结构.该结构采用了冗余修复及电可编程熔丝eFuse硬修复的方法,具有很好的通用性及可行性,已多次应用在实际项目中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦贵忠		5	0	0.0	0.0
2	秦盼		3	1	1.0	1.0
3	朱芳		2	0	0.0	0.0