基于哈希表的高效存储器内建自修复方法

• 作者: 于芳 刘忠立 郭旭峰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自修复 哈希表 内建冗余分析 内建自测试
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1371-1377
• 页数: 7页
• 分类号: TP333
• 字数: 4488字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.020

摘要

现有存储器内建自修复方法要么遍历式地址比较效率低，要么并行地址比较功耗高，都不适用于大故障数存储器．对此，本文提出一种高效的存储器内建自修复方法，该方法对占故障主体的单元故障地址以哈希表形式进行存储，以利用哈希表的快速搜索特性提升地址比较效率．本文方法修复后的存储器在1个时钟周期内即可完成地址比较，修复后存储器性能不受任何影响，与目前广泛采用的基于CAM的方法处于同一水平，但功耗方面却具有明显优势．计算机模拟实验表明，对于512×512×8 bits的存储器在同等冗余开销的情况下本文方法修复率相对于ESP方法平均提高了32.25％．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘忠立	中国科学院微电子研究所	77	412	12.0	14.0
2	于芳	中国科学院微电子研究所	28	112	6.0	9.0
3	郭旭峰	中国科学院微电子研究所	2	4	1.0	2.0