嵌入式存储器MBIST设计中内建自诊断功能研究

• 作者: 乔树山 吴斌 王晓琴 黑勇
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式存储器 存储器内建自测试 存储器内建自诊断
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 页码范围: 893-896
• 页数: 4页
• 分类号: TP343
• 字数: 2764字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2005.04.052

摘要

针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术--存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能--存储器内建自诊断(MBISD).在引入存储器内建自测试的基础上,详细分析了存储器内建自诊断模块根据输出故障信息自动分析器件失效原因、并对失效单元进行故障定位和识别的基本原理及其中的关键算法,并用一块SRAM的MBIST设计(采用Mentor公司的MBISTArchitect完成)中的MBISD具体实例进行了仿真验证.存储器内建自诊断的应用,大大提高了存储器的成品率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴斌	中国科学院微电子研究所专用集成电路与系统研究室	161	2294	16.0	45.0
2	黑勇	中国科学院微电子研究所专用集成电路与系统研究室	86	477	11.0	16.0
3	乔树山	中国科学院微电子研究所专用集成电路与系统研究室	53	272	9.0	14.0
4	王晓琴	中国科学院微电子研究所专用集成电路与系统研究室	9	50	4.0	7.0