板级电路内建自测试建模技术研究

• 作者: 朱敏 杨春玲 王石记
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 多信号模型 可测性设计 可测性分析 板级电路
• 年，卷（期）: 2010,（26）
• 页码范围: 176-178
• 分类号: TN702
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6835.2010.26.074

摘要

板级电路的内建自测试技术使电路具有自测试能力,减少测试周期和测试费用,但是这种电路结构设计与故障诊断难度较大,本文提出了基于多信号模型的板级电路可测性建模方法,并将其应用于板级电路高速数据采集器中.结果证明,大大提高了数据采集器的故障检测率和故障隔离卒,通过电路本身的控制器还可以实现电路的自测试,本论文的研究成果对各种电子电路的可测性设计具有实际的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨春玲	哈尔滨工业大学电气工程学院	54	329	12.0	15.0
2	朱敏	哈尔滨工业大学电气工程学院	18	83	5.0	8.0
3	王石记		10	60	4.0	7.0