互连内建自测试技术的原理与实现

• 作者: 丁琳 虞美兰
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 高速互连 互连测试 内建自测试
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 268-270
• 页数: 3页
• 分类号: TP206.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2008.05.110

摘要

芯片间的互连速率已经达到GHz量级,相比较于低速互连,高速互连的测试遇到了新的挑战.本文探讨了高速互连测试的难点,传统互连测试方法的不足,进而介绍了互连内建自测试(IBIST)的结构以及方法,最后给出IBIST在FPGA中的一种实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞美兰		6	8	2.0	2.0
2	丁琳		4	13	2.0	3.0