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原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
提出了一种新颖的数模转换器(DAC)静态参数内建自测试(BIST)方法。该方法采用斜坡信号发生器和两个参考电压作为标准信号源和误差极限电压,测试DAC的四个主要的静态参数:失调误差(offset),增益误差(gain error),积分非线性误差(INL )和微分非线性误差(DNL ),有效地节省了参考源的数目。静态参数计算的优化以及测试器件的共享使得BIST电路所占芯片面积大大减小。仿真结果表明该方法是一种简单的测试DAC静态误差的内建自测试结构。
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篇名 一种新颖的数模转换器静态参数内建自测试方法
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 内建自测试 积分非线性误差 微分非线性误差 静态误差
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 127-129,133
页数 4页 分类号 TN402
字数 语种 中文
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1 程梦璋 6 34 3.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
内建自测试
积分非线性误差
微分非线性误差
静态误差
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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59060
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