基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术

• 作者: 张佑生 李晓维 王伟 韩银和
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 漏电流 不确定位 遗传算法
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 282-286
• 页数: 5页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 4638字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2006.02.019

摘要

众所周知,CMOS电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应.然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定位(X位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法.实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张佑生	合肥工业大学计算机与信息学院	135	1269	19.0	29.0
2	韩银和	中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室	48	573	12.0	22.0
3	李晓维	中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室	127	1467	20.0	32.0
4	王伟	合肥工业大学计算机与信息学院	162	1275	18.0	27.0