测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响

• 作者: 李晓维 洪先龙 骆祖莹
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试向量 测试功耗 功耗优化 海明距离
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 52-55
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.02.017

摘要

文章通过调整测试向量中未确定位的数目,来考察测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响.ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明:无论对于组合电路还是时序电路,随着测试向量中未确定位数目的增加,未优化测试功耗有明显的降低,同时对于本文所考察的三种测试功耗优化方法,它们的优化效果均有明显的改善.其中海明距离优化方法的优化效果改善最大,当未确定位数目增加到90%以上时,可以用海明距离优化方法替代另外两种耗时的优化方法,直接对CMOS VLSI时序电路测试功耗进行优化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
2	洪先龙	清华大学计算机科学与技术系	114	410	9.0	11.0
3	骆祖莹	清华大学计算机科学与技术系	15	106	8.0	9.0