低功耗测试向量产生技术的研究

• 作者: 张弘 高海霞
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 低功耗 测试 测试向量产生
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 213-216
• 页数: 4页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

测试功耗问题是当今深亚微米芯片设计领域研究的热点,低功耗测试向量产生技术能够产生低功耗测试向量,且不需要对设计进行内在修改.文中分析了低功耗测试的重要性及现有低功耗测试向量产生方法,从外部测试、内建自测试和测试数据压缩技术三方面分析了低功耗测试向量产生技术的基本思路、研究现状及其优缺点,提出连续测试向量间的相关性是低功耗测试向量产生技术的关键问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高海霞	西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	17	108	7.0	9.0
2	张弘	西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	8	39	3.0	6.0