一种低功耗BIST测试产生器方案

• 作者: 何蓉晖 宫云战 李晓维
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 低功耗设计 内建自测试 测试产生器 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.02.013

摘要

低功耗设计呼唤低功耗的测试策略.文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试测试产生器方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑,对LFSR的输出和时钟进行调整,从而得到了准单输入跳变的测试向量集,使得待测电路的平均功耗大大降低.给出了以ISCAS'85/89部分基准电路为对象的实验结果,电路的平均测试功耗降幅在54.4%～98.0%之间,证明了该方案的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
2	何蓉晖	中国科学院计算技术研究所	3	81	3.0	3.0
3	宫云战	中国科学院计算技术研究所	4	81	4.0	4.0