单/双跳变向量插入式低功耗BIST设计方法

• 作者: 宋胜东 施文康 谈恩民
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 内建自测试 低功耗 线性反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2007,（8）
• 页码范围: 183-185
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.08.054

摘要

提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试BIST(built-in self-test)设计方法,该方法在原始线性反馈移位寄存器LFSR(linear feedback shift register)的基础上加入若干逻辑,使测试向量每周期最多产生两次跳变,因而大大降低了被测电路CUT(circuit undertest)的功耗.通过对组合电路集ISCAS'85的实验证明,被测电路的总功耗、平均功耗以及峰值功耗都有大幅度的降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施文康	上海交通大学电子信息与电气工程学院	180	2724	26.0	43.0
2	谈恩民	上海交通大学电子信息与电气工程学院	53	221	8.0	11.0
6	宋胜东	桂林电子科技大学电子工程学院	1	8	1.0	1.0