低功耗单输入跳变测试理论的研究

• 作者: 傅兴华 王义
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 低功耗设计 测试生成器 随机单输入跳变 线性反馈移位寄存器 译码器
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 页码范围: 5-7
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

介绍一种随机单输入跳变(RSIC)低功耗测试方案.基本原理是在原线性反馈移位寄存器(LFSR)的基础上加入代码转换电路,对LFSR输出的随机测试向量进行变换,从而得到随机单输入跳变测试序列,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗.文中给出了RSIC测试序列的生成准则,以CC4028集成电路为被测电路作了研究,结果表明在进行低功耗测试时,单输入跳变测试序列比多输入跳变测试序列更加有效,在不影响故障覆盖率的情况下可以将开关翻转活动率降低到58%,证实了该方案的实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅兴华	贵州大学电子信息工程学院	57	181	8.0	9.0
2	王义	贵州大学电子信息工程学院	13	53	6.0	7.0