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基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
作者:
李鹏
颜学龙
原文服务方:
微电子学与计算机
内建自测试
低功耗测试矢量
故障覆盖率
可配置线性反馈移位寄存器
摘要:
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案。该方案先借助A talanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量的方法以及可配置线性反馈移位寄存器生成确定性测试向量的原理,获得低功耗测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验,证实了这种测试生成方案的有效性。
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确定性测试矢量
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内建自测试
低功耗
可测性设计
基于多配置LFSR的测试生成结构设计
内建自测试
混合测试矢量
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基于折叠重排的低功耗BIST技术研究
内建自测试(BIST)
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文献信息
篇名
基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
内建自测试
低功耗测试矢量
故障覆盖率
可配置线性反馈移位寄存器
年,卷(期)
2013,(10)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
144-148,152
页数
6页
分类号
TN402
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
颜学龙
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
89
330
9.0
12.0
2
李鹏
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
26
49
4.0
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版权信息
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研究主题发展历程
节点文献
内建自测试
低功耗测试矢量
故障覆盖率
可配置线性反馈移位寄存器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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