原文服务方: 微电子学与计算机       
摘要:
针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案。该方案先借助A talanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量的方法以及可配置线性反馈移位寄存器生成确定性测试向量的原理,获得低功耗测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验,证实了这种测试生成方案的有效性。
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内容分析
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文献信息
篇名 基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究
来源期刊 微电子学与计算机 学科
关键词 内建自测试 低功耗测试矢量 故障覆盖率 可配置线性反馈移位寄存器
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 144-148,152
页数 6页 分类号 TN402
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 颜学龙 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 89 330 9.0 12.0
2 李鹏 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 26 49 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
内建自测试
低功耗测试矢量
故障覆盖率
可配置线性反馈移位寄存器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
月刊
1000-7180
61-1123/TN
大16开
1972-01-01
chi
出版文献量(篇)
9826
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0
总被引数(次)
59060
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