确定性测试矢量生成的低功耗设计

• 作者: 孙元 李鹏 颜学龙
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 故障覆盖率 确定性测试矢量 测试功耗 可配置LFSR
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 固体电子器件及材料
• 页码范围: 612-617
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 字数: 4211字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2013.05.007

摘要

在组合电路内建自测试过程中,为了保证在获得较高故障覆盖率的条件下,减少测试功耗,提出了一种确定性低功耗测试矢量的生成结构,该结构利用可配置反馈网络的LFSR作为确定性矢量生成器,并结合单翻转矢量插入逻辑的时钟复用原理,使确定性测试矢量间插入了单一跳变的测试矢量.通过对组合电路集ISCAS'85的实验,表明该设计不仅提高了故障覆盖率,缩短了测试时间,而且能有效降低电路的总功耗、平均功耗和峰值功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜学龙	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	89	330	9.0	12.0
2	李鹏	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	26	49	4.0	6.0
3	孙元	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	4	8	2.0	2.0