低功耗测试序列生成电路的建模及分析

• 作者: 梁峰 邵志标 雷绍充
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: RSIC测试序列 数学建模 特性 种子向量 片外测试
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TN
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2005.08.017

摘要

为了解决深亚微米、SOC和低功耗电路中的测试问题,低功耗测试序列RSIC序列的生成方法得以研究和发展.文章提出关于RSIC序列生成电路的建模和分析理论.其研究特色是抽象出此类复杂电路固有特性的通用模型,建立一套简洁、准确的数学描述和分析方法,论证了此类电路的一系列特性,并通过片外测试的模拟结果来验证RSIC序列的低功耗.该研究结果为RSIC序列研究和应用提供了强有力的理论基础和分析方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁峰	西安交通大学电子与信息工程学院	42	263	9.0	15.0
2	邵志标	西安交通大学电子与信息工程学院	42	180	9.0	10.0
3	雷绍充	西安交通大学电子与信息工程学院	17	53	5.0	7.0