系统芯片中低功耗测试的几种方法

• 作者: 周旭 李文 范东睿 蒋敬旗
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 系统芯片 低功耗 测试
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2002.10.007

摘要

在系统芯片可测试性设计中考虑功耗优化问题是当前国际上新出现的研究领域.在可测试性设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试方式下的功耗比系统在正常工作方式下高很多.测试期间的功耗会引发系统成本上升,可靠性降低,成品率下降.本文介绍低功耗测试技术中的一些基本概念,对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行分析,最后给出一种高性能微处理器的真速低功耗自测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李文	中国科学院计算技术研究所	179	2992	32.0	43.0
2	周旭	中国科学院计算技术研究所	62	377	11.0	16.0
3	范东睿	中国科学院计算技术研究所	35	225	9.0	13.0
4	蒋敬旗	中国科学院计算技术研究所	5	47	4.0	5.0