一种面向多核DSP芯片的低功耗验证方法

• 作者: 冯春阳 孙健 张辉 时鹏飞 蒙玲
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 多核DSP 低功耗 电源域 仿真验证
• 年，卷（期）: 2015,（12）
• 页码范围: 116-121,125
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

随着芯片设计进入纳米时代,芯片的规模和工作频率不断提高,尤其在工艺发展到65 nm及以下时,芯片的功耗已经成为继面积和性能之后的主要影响因素之一.面对低功耗设计技术要求的不断增加,对面向低功耗设计的仿真验证也提出了更高的要求.对此全面系统地介绍了低功耗设计的相关背景、原理和不同层次的优化技术,通过对一款多核DSP芯片的低功耗验证,针对低功耗设计的各种策略,构建了基于SystemVerilog的仿真验证环境,实现了一种高效可行的低功耗仿真验证方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯春阳		9	23	3.0	4.0
2	孙健		3	4	1.0	2.0
3	张辉		2	4	1.0	2.0
4	时鹏飞		2	1	1.0	1.0
5	蒙玲		1	1	1.0	1.0