基于双模式LFSR的低功耗BIST结构

• 作者: 张哲 时龙兴 王学香 胡晨
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 线性反馈位移寄存器 内建自测试 低功耗 可测性设计
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 705-709,718
• 页数: 6页
• 分类号: TP313
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2004.04.040

摘要

传统的BIST结构中,由于LFSR产生大量的测试矢量在测试过程中消耗了大量的功耗.为了减少测试矢量的数目而不影响故障覆盖率,我们提出了一种新的基于双模式LFSR的低功耗BIST结构.首先介绍了功耗模型和延迟模型的基础知识,然后给出了用于生成双模式LFSR的矩阵,并介绍了解矩阵方程式的算法.随后说明了新的BIST结构和用于矢量分组的模拟退火算法.最后,基于Benchmark电路的实验证明这种结构可以在不降低故障覆盖率的同时减少70%的功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晨	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	72	709	14.0	24.0
2	时龙兴	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	61	457	11.0	18.0
3	张哲	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	38	308	8.0	16.0
4	王学香	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	11	90	6.0	9.0