一种用于低功耗BIST的多重抑制LFSR结构

• 作者: 刘锋 张哲 毛武晋 胡晨 许舸夫
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: BIST 多重抑制 距离数 分割
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 388-391
• 页数: 4页
• 分类号: TP332.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2002.04.015

摘要

本文提出了一种多重抑制的线性反馈移位寄存器(LFSR)结构来降低内建自测试(BIST)的功耗.这种结构通过矢量间的距离而不是矢量本身来抑制对测试没有贡献的测试矢量子序列.用来估算功耗的电路内部WSA(Weighted Switching Activity)平均降低了80.3%.此外,这种结构的另一个优点是:随着抑制次数的增加,面积开销的增加量要比其他的过滤和抑制技术要小的多.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡晨	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	72	709	14.0	24.0
2	张哲	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	38	308	8.0	16.0
3	毛武晋	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	4	26	1.0	4.0
4	刘锋	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	10	37	3.0	6.0
5	许舸夫	东南大学国家专用集成电路系统工程中心	5	36	3.0	5.0