一种有效降低扫描结构测试功耗的方法

• 作者: 张志伟 张红南 徐君 李向库 王松
• 来源期刊: 湖南大学学报（自然科学版）
• 关键词: 扫描测试 测试向量 组合逻辑电路 动态功耗
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 机电工程
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

摘要

提出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案.通过增加逻辑门结构来控制测试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播.同时,设计了时序优化算法以保持电路其他性能不发生大的改变.实验结果显示:通过采用ISCAS89基准测试程序进行分析,优化前无用动态功耗值约占总功耗的19.84%,优化后整体测试功耗降低约23%,有效地降低了无用动态功耗,并且此方案容易在已有的设计流程里实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王松	湖南大学物理与微电子科学学院	30	91	6.0	8.0
3	徐君	中国科学院计算技术研究所	13	64	4.0	8.0
4	张红南	湖南大学物理与微电子科学学院	25	100	5.0	8.0
7	李向库	中国科学院计算技术研究所	1	2	1.0	1.0
8	张志伟	湖南大学物理与微电子科学学院	1	2	1.0	1.0