一种峰值功耗约束下的SoC蚁群测试调度算法

• 作者: 崔小乐 李崇仁 程伟
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试调度 测试功耗 蚁群优化
• 年，卷（期）: 2011,（7）
• 页码范围: 5-8
• 分类号: TP311
• 语种: 中文

摘要

基于扫描链技术的SoC芯片测试可产生比正常使用模式下更大的功耗,这将会对器件可靠性产生不利影响,故在测试时需要将芯片测试功耗控制在允许峰值功耗之下.文中采用蚁群优化思路设计SoC测试调度算法,用于在峰值功耗和TAM总线最大宽度约束下降低SoC测试时间.实验结果表明,本方法优于先前已发表的相关方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔小乐	北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室	16	77	5.0	8.0
2	程伟	北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室	10	85	5.0	9.0
3	李崇仁	北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室	3	15	2.0	3.0