一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型

• 作者: 徐勇军 李晓维 陈治国
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 测试功耗 扫描测试 概率分析法
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 108-112
• 页数: 5页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.02.029

摘要

文章通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型.该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计.在此基础上,依据扫描单元的置1概率重排扫描链能有效地降低扫描功耗.实验结果表明,这种方法是有效可行的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐勇军	中国科学院计算技术研究所	47	744	14.0	26.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
3	陈治国	电子科技大学物理电子学院	2	12	2.0	2.0