基于多种群改进量子进化算法的3D NoC测试功耗优化

• 作者: 王苏妍 许川佩
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 三维片上网络 测试功耗 量子进化算法 优体交叉 多种群
• 年，卷（期）: 2017,（8）
• 页码范围: 17-22
• 页数: 6页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文

摘要

针对在测试过程中芯片产生较大的热效应会破坏芯片的可靠性,本文在进行测试规划获得最短测试时间的基础上,将测试时间作为约束,采用多种群改进量子进化算法优化测试功耗,以降低测试成本,防止功耗过高造成芯片不可逆的损坏.算法中,为了避免单一种群不能保证种群多样性,将多种群操作与算法相结合,并引入优体交叉策略,以提高算法的全局寻优能力.以ITC''02基准电路作为实验对象,实验结果表明,该算法能迅速收敛到最优解,缩短了测试时间,提高了测试效率,并在测试时间约束下,优化了测试功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	124	676	13.0	19.0
5	王苏妍	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	6	2.0	2.0