3D-NoC的测试端口选择优化

• 作者: 姚永兴 许川佩
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 片上网络 选择优化 云进化算法
• 年，卷（期）: 2015,（3）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 810-813,820
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2015.03.038

摘要

提出一种功耗限制下测试端口选择优化的方法,从而缩短测试时间.以系统功耗确定测试端口对数,以内核测试占用网络资源最少和测试时间最短为目标,为被测核选择端口位置.利用云进化算法对不同端口位置组合寻优,快速收敛到适应值最佳的测试端口组合,完成测试方法研究.以ITC' 02基准电路作为实验对象,针对不同规模NoC,实验结果表明,这种方法提高了测试效率,缩短了测试时间,降低了测试代价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	124	676	13.0	19.0
5	姚永兴	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	8	1.0	1.0