双阈值VLSI低测试功耗方法研究

• 作者: 王冠军 邢军
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 测试功耗 电压调节 漏电流优化 测试向量
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 1402-1404,1408
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2009.04.059

摘要

提出一种测试功耗优化的新方法,它通过阈值门电路调节和漏电流优化两种方法相结合来降低静态功耗.通过算法寻找电路的关键路径,去除伪路径,然后在关键电路上设置低阈值门电路,在非关键电路上设置高阈值门电路(不违反时序约束的前提下),利用测试向量的无关位特性来调整测试向量和测试架构,达到降低漏电流的目的.通过以上两种途径,整体上达到功耗优化的结果,实验结果证实了本方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王冠军	哈尔滨工程大学计算机科学与技术学院	10	35	4.0	5.0
2	邢军	牡丹江师范学院计算机科学与技术系	14	26	3.0	4.0