嵌入式系统在液晶电光特性测试中的应用

• 作者: 杨玉成 王飞 黄子强
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 电光特性 ARM9 操作系统 用户图形界面
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 页码范围: 56-58
• 页数: 3页
• 分类号: TN370.7

摘要

介绍了一种智能液晶电光特性测试仪的设计方案，该设计以ARM9微处理器为控制和数据处理核心，并引入WINDOWS CE操作系统，带有用户图形界面，操作简单，可实现对液晶电光特性参数的智能测量和数据图形的显示输出。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄子强	电子科技大学光电信息学院	75	532	13.0	19.0
2	王飞	电子科技大学光电信息学院	8	27	3.0	5.0
3	杨玉成	电子科技大学光电信息学院	3	9	1.0	3.0