原文服务方: 科技与创新       
摘要:
三维多芯片组件(3D MCM-Three Dimensjon Multi-Chip Module)是近几年正在发展的一种电子封装技术.在3D MCM封装中,随着芯片封装密度的增加,对其热分析与热设计技术就显得越来越重要了.本文利用有限元方法,通过Ansys软件工具对某静态存储器组件(3D MCM模块)内部温度场进行了模拟仿真,并与实验数据进行了对比,获得了很好的分析效果.为3D MCM的可靠性设计提供了技术支持.
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文献信息
篇名 3D MCM热分析技术的研究
来源期刊 科技与创新 学科
关键词 微电子封装 三维多芯片组件 热分析 有限元
年,卷(期) 2006,(11) 所属期刊栏目 电子设计
研究方向 页码范围 191-193,145
页数 4页 分类号 TN305.94
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.11.071
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 施法中 北京航空航天大学机械工程及自动化学院 87 1163 18.0 30.0
2 曹玉生 北京航空航天大学机械工程及自动化学院 3 26 3.0 3.0
6 于海平 北华航天工业学院材料工程系 1 14 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
微电子封装
三维多芯片组件
热分析
有限元
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
科技与创新
半月刊
2095-6835
14-1369/N
大16开
2014-01-01
chi
出版文献量(篇)
41653
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202805
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