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摘要:
在当前SoC验证领域中,如何提高验证平台的可靠性和效率是一个迫切需要解决的问题.传统的向量产生方法存在着效率低、覆盖率不高等缺陷.本文介绍了一种基于遗传算法的随机向量产生器.它结合覆盖率驱动技术,能够自动搜索适合于待测模块的测试激励.与传统的向量生成方法相比,基于遗传算法的产生器极大地提高了验证效率,并且减轻了验证工程师的工作,缩短了芯片上市的时间.
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文献信息
篇名 遗传算法在层次化验证平台中的应用
来源期刊 电子质量 学科
关键词 遗传算法 SoC 产生器 层次化验证平台
年,卷(期) 2007,(8) 所属期刊栏目 产品解决方案
研究方向 页码范围 20-23
页数 4页 分类号 TN407
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.08.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 申敏 重庆邮电大学移动通信重点实验室 108 359 9.0 12.0
2 陈辉 重庆邮电大学移动通信重点实验室 6 85 5.0 6.0
3 万超 重庆邮电大学移动通信重点实验室 9 24 3.0 4.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
遗传算法
SoC
产生器
层次化验证平台
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
0
总被引数(次)
15176
论文1v1指导