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基于层次化验证平台的存储器控制器功能验证
基于层次化验证平台的存储器控制器功能验证
作者:
于立新
吴英攀
庄伟
薛可
原文服务方:
微电子学与计算机
VMM
分类树
验证
存储器控制器
摘要:
文中描述了一种基于层次化的验证平台存储器控制器功能验证方法.根据VMM(Verification Methodokgy Manual)验证方法学构建的一个层次性的验证平台,它易于维护并且具有很好的灵活性和可重用性.文中中的覆盖率模型是采用分类树方法构建.采用分类树方法不仅易于提取完整的被测功能点,而且可以使从规范到Sys-temVerilog语言描述的转换变得更加容易,从而大大提高了验证的效率和缩短了验证时间.该方法也同样适合于片上系统(SoC)的验证.
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基于层次化验证平台的存储器控制器功能验证
来源期刊
微电子学与计算机
学科
关键词
VMM
分类树
验证
存储器控制器
年,卷(期)
2009,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
25-28
页数
4页
分类号
TN47
字数
语种
中文
DOI
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节点文献
VMM
分类树
验证
存储器控制器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学与计算机
主办单位:
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7180
CN:
61-1123/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1972-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
9826
总下载数(次)
0
总被引数(次)
59060
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