基于March算法的存储器测试控制器设计

• 作者: 于亮 左正军 李加庆 程新明
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 存储器 测试 March算法
• 年，卷（期）: 2007,（29）
• 所属期刊栏目: 片上系统
• 页码范围: 107-109
• 页数: 3页
• 分类号: TP333
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2007.29.044

摘要

随着soc设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展,存储器的品质直接影响着soc的整体性能的提高,故对于存储器测试显得尤为重要.现在存在的一些存储器测试方法对故障的覆盖率都不能达到100%.本文分析了现有的各种March算法,提出了一种新的存储器测试控制器设计方法,它综合调配各种March算法,使测试的故障覆盖率接近100%,并且硬件开销很小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程新明	空军雷达学院信息与指挥自动化系	19	46	4.0	6.0