基于LabVIEW和FPGA的存储器测试系统设计

• 作者: 杨红官 王晓亮 谢朝辉
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: LabVIEW SRAM静态随机存储器 串口通信
• 年，卷（期）: 2012,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 1763-1765,1772
• 分类号: TP29
• 语种: 中文

摘要

为满足多种存储器的测试需求,基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统；系统分为上位机及下位机两个部分,其上位机部分采用LabVIEW开发测试控制器,完成系统的测试控制、测试数据的采集与存储及对传统仪器的程序控制；下位机部分采用FPGA实现测试所需要的测试激励生成,经实测验证了系统可以对专用存储器进行自动化监控测试,具有测试成本低测试灵活及可扩展性强等特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓亮	湖南大学物理与微电子科学学院	38	212	9.0	12.0
3	杨红官	湖南大学物理与微电子科学学院	28	95	6.0	7.0
4	谢朝辉	中国科学院微电子研究所	2	11	2.0	2.0