半电波暗室静区电磁兼容测试性能分析

• 作者: 李健涛 苏东林 蔡德荣 陈文青
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半电波暗室 静区 电磁兼容 测试方法
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 22-25,36
• 页数: 5页
• 分类号: TM153+.5|TM25
• 字数: 3013字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7202.2007.05.005

摘要

通过分析半电波暗室屏蔽层和吸波材料层两个决定半电波暗室静区特性的主要因素,解释了产生电磁兼容测试误差的主要原因,在此基础上总结了在半电波暗室进行电磁兼容测试的测试方法,对于评价暗室测试提供了新的思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏东林	北京航空航天大学电子信息工程学院	139	711	15.0	20.0
2	蔡德荣	海军装备研究院信息工程技术研究所	3	6	2.0	2.0
3	陈文青	北京航空航天大学电子信息工程学院	1	4	1.0	1.0
7	李健涛	海军装备研究院信息工程技术研究所	1	4	1.0	1.0