La1.6-xNd0.4SrxCuO4超导体的正电子实验研究

• 作者: 曹世勋 李喜贵 黎文峰
• 来源期刊: 河南师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 正电子寿命 分布权重 局域电子密度
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: O483|O511|O513
• 字数: 2765字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2367.2007.04.019

摘要

用正电子寿命谱研究了La1.6-xNd0.4SrxCuO4 (x=0.12,0.15,0.20)和La1.88Sr0.12CuO4,结果表明随着Sr掺杂量的增加,空穴载流子增加,而正电子寿命却减小,分析认为可能是正电子密度分布权重由CuO2面向Nd替代后的La(Nd,Sr)-O层转移的结果.并分析了体系的电子密度ne随Sr掺杂量的变化关系,表明随着Sr掺杂量的增加ne逐渐增大.但对同样Sr含量的La1.88Sr0.12CuO4和La1.48Nd0.4Sr0.12CuO4其ne基本相同,体现出Nd替代La对样品的载流子数目没有明显影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹世勋	上海大学物理系	83	211	8.0	12.0
2	李喜贵	河南师范大学物理与信息工程学院	41	196	8.0	11.0
3	黎文峰	河南师范大学物理与信息工程学院	6	26	2.0	5.0