基于Bose-Lin码的组合电路容错设计

• 作者: 李明 肖桂军 韩彤辉
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 全自检(TSC) t个单向错误检测(t-UED) 偶发性单向错误检测(BUED) 双轨检测器
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 页码范围: 190-193
• 页数: 4页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.07.055

摘要

应用Bose-Lin码实现了特定功能的组合电路容错设计,并采取在输入输出端加入缓存的方法,当电路出现故障时可以使系统恢复正常工作.为了方便电路的扩展,还进一步优化了输入输出端缓存的结构.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李明	上海大学微电子研究与开发中心	102	378	10.0	16.0
2	肖桂军	上海大学微电子研究与开发中心	1	2	1.0	1.0
3	韩彤辉	上海大学微电子研究与开发中心	1	2	1.0	1.0