1/3码的动态CMOS全自检电路的设计

• 作者: 李明 李记军 陆建松
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 故障安全 码字分离 1/3码检测器 全自检测电路(TSC)
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 电子设计
• 页码范围: 212-213,287
• 页数: 3页
• 分类号: TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-0570.2006.11.078

摘要

自检测电路设计方法有多种多样,本文中介绍了TSC电路的概念,并采用1/3码的动态CMOS设计TSC电路,通过在Cadence环境下仿真,仿真结果表明本设计可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李记军	200072上海大学微电子研究与开发中心	1	0	0.0	0.0
2	李明	200072上海大学微电子研究与开发中心	1	0	0.0	0.0
3	陆建松	200072上海大学微电子研究与开发中心	1	0	0.0	0.0