CMOS电路IDDQ测试电路设计

• 作者: 何春 杨晓明 江耀曦 邵建龙
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: IDDQ测试 测试方法 电流检测 CMOS电路
• 年，卷（期）: 2011,（16）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计
• 页码范围: 131-132,136
• 分类号: TN710-34|TP206
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2011.16.040

摘要

针对CMOS集成电路的故障检测,提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法,并对测试电路进行了设计.所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测,通过观察测试电路输出的高低电平可知被测电路是否存在物理缺陷.测试电路的核心是电流差分放大电路,其输出一个与被测电路IDDQ电流成正比的输出.测试电路串联在被测电路与地之间,以检测异常的IDDQ电流.测试电路仅用了7个管子和1个反相器,占用面积小,用PSpice进行了晶体管级模拟,实验结果表明了测试电路的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江耀曦	昆明理工大学信息工程与自动化学院	10	8	1.0	2.0
2	邵建龙	昆明理工大学信息工程与自动化学院	52	160	6.0	11.0
3	何春	昆明理工大学信息工程与自动化学院	13	19	2.0	3.0
4	杨晓明	昆明理工大学信息工程与自动化学院	1	1	1.0	1.0