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基于FPGA的硬件测试电路设计
基于FPGA的硬件测试电路设计
作者:
宁凯
徐安俊
李富国
原文服务方:
自动化与仪表
硬件电路
测试技术
FPGA
仿真测试
摘要:
以FPGA为核心的集成电路技术发展迅猛, 使得FPGA的应用已经从通信基础设备这一非常窄的领域迅速扩展到了非常广泛的应用领域.从软件和硬件2个部分研究设计了基于FPGA的硬件测试电路.硬件部分主要由锁相环模块、计数器模块、防抖电路模块以及译码模块组成;软件部分利用QuartusⅡ软件并结合EDA开发工具对各模块进行编译、逻辑综合, 完成仿真测试工作;通过PCB板对整个硬件电路实测.仿真及实测结果表明, 该硬件测试电路实现了预期设计功能, 各项性能满足设计要求.
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文献信息
篇名
基于FPGA的硬件测试电路设计
来源期刊
自动化与仪表
学科
关键词
硬件电路
测试技术
FPGA
仿真测试
年,卷(期)
2019,(2)
所属期刊栏目
检测技术与数据处理
研究方向
页码范围
35-37,50
页数
4页
分类号
TN791
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-9944.2019.02.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
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1
李富国
长春大学机械与车辆工程学院
5
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3.0
2
宁凯
长春大学机械与车辆工程学院
3
1
1.0
1.0
3
徐安俊
长春大学机械与车辆工程学院
6
1
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2019(1)
引证文献(1)
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研究主题发展历程
节点文献
硬件电路
测试技术
FPGA
仿真测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
自动化与仪表
主办单位:
天津市工业自动化仪表研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-9944
CN:
12-1148/TP
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1981-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
3994
总下载数(次)
0
总被引数(次)
18195
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