单总线技术的硅光电池特性实验装置

• 作者: 刘振宇 杨建芳 谷玉海
• 来源期刊: 北京机械工业学院学报（综合版）
• 学科: 工学
• 关键词: 硅光电池 温度测量 单片机
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 页码范围: 32-34
• 页数: 3页
• 分类号: TP211.6
• 字数: 1568字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6864.2007.02.008

摘要

硅光电池的温度特性将关系到应用光电池的仪器设备的温度漂移,影响到测量稳定性及控制精度等主要指标.因此,对硅光电池温度特性的测量非常重要.如何运用基于单总线技术的温度传感器DS18B20测量其温度,并结合单片机控制技术,给出了一种自动化程度较高的光电池温度特性测量的设计方案,主要包括硬件设计和软件设计两部分.结果表明该方案切实可行,为实际应用提供了理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谷玉海	北京机械工业学院机电系统测控北京市重点实验室	27	114	6.0	9.0
2	杨建芳	北京机械工业学院机电系统测控北京市重点实验室	2	4	1.0	2.0
3	刘振宇	北京机械工业学院机电系统测控北京市重点实验室	2	4	1.0	2.0